Nano Indenter G200X 微纳米力学测试平台

Nano Indenter G200X可提供纳米级的力学测试功能，简单易用，能够精确进行各种力学定量分析。G200X系统中配置了高精度纳米马达样品台、最大的样品安装系统和高分辨率光学显微镜。InView软件、InQuest控制器和InForce驱动器让KLA全线压痕产品系列具有一致的卓越性能。 G200X系统可选功能包括连续刚度测量(CSM)、扫描探针显微成像、划痕测试、动态力学分析频率扫描，、IV电压电流特性测试、超高速压痕测试和冲击测试等等。

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描述

主要功能

  • 电磁驱动器可轻松实现载荷和位移的宽动态范围的控制
  • 高分辨率光学显微镜与精密XYZ 移动系统结合，实现高精度观察与定位测试样本。
  • 便捷的样本安装台与多样本定位设置功能实现高通量测试。
  • 高度模块化设计，设备提供扫描探针成像功能、划痕及磨损测试功能、高温纳米力学测试功能、连续刚度测试(CSM) 和高速3D及4D力学图谱等模块化升级选件。
  • 直观的用户操作界面便于快速的进行测试设置；仅需点击几下鼠标即可完成复杂测试的参数设置。
  • 实时高效的实验控制，简单易用的测试流程开发和测试参数设置。
  • 全新的InView软件，提供用于分析数据的Review软件和生成各种综合性测试报告的 InFocus软件。
  • 独家发明并获得美国R&D奖的材料表面力学图谱功能和高速测试功能，极大的提高了定量数据的可靠性。
  • InQuest高速数字控制器，数据采集速率最高可达100kHz，时间响应常数最快为20µs。